薄膜電容器是由很多基礎(chǔ)元件組成的，由于原材料及制造工藝的原因，一些經(jīng)驗(yàn)不足設(shè)備不完善和一些小作坊的制造會(huì)導(dǎo)致薄膜電容器有隱患。例如在生產(chǎn)的時(shí)候容易存在介質(zhì)，機(jī)械損傷，針孔，清潔度低等問(wèn)題。

這些的原因會(huì)導(dǎo)致薄膜電容器的時(shí)候壽命短，而且容易擊穿。劣質(zhì)薄膜電容器在系統(tǒng)中手各種原因引起的過(guò)電壓，過(guò)電流及周?chē)?、低溫度的作用，這些薄膜點(diǎn)便引起介質(zhì)擊穿。擊穿時(shí)通常會(huì)產(chǎn)生火花，進(jìn)一步的擴(kuò)大范圍，從而形成多層短路甚至整個(gè)元件短路。與擊穿元件串聯(lián)的元件上的電壓將會(huì)隨之升高，從而使剩余組上的電壓隨之升高，通過(guò)每個(gè)元件的電流也隨之增大。將導(dǎo)致各個(gè)元件迅速老化，增加發(fā)熱量。